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AI芯片测试时长与成本非线性上升,国产存储扩产加速推动半导体后道设备需求提速

Hopper到Rubin成品测试时长由1升至7,系统级测试由1升至2.5,老化测试时长还可能翻倍,成品、老化与系统级测试合计成本占比由1.9%升至2.5%和3.3%。需求受晶体管、芯粒、HBM、SerDes及电源域增加驱动,单颗芯片更难测、测得更久、设备单价更高。国内封装复杂度上升叠加两存扩产边际加速,推动测试机、分选机、探针卡需求持续提速。重点看好:长川科技(数字测试机龙头,存储测试机放量)、华峰测控(功率+模拟+数字+SLT测试龙头)、强一股份(MEMS探针卡龙头)、深科达(转塔式分选机持续放量,平移式分选机年内订单预计从8台增至200台)。

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新闻直接点名的MEMS探针卡龙头。探针卡销售占收入95.3%,是境内极少数能批量生产MEMS探针卡的厂商。2026年1月公告调整募投项目,明确研发方向向"超高针数、超小Pitch 2.5D MEMS探针卡"聚焦,以匹配未来DRAM/HBM测试需求,与新闻HBM驱动测试逻辑完全吻合。
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新闻直接点名的数字测试机龙头。主营测试机(收入60.5%)+分选机(29.6%),存储测试机持续放量。AI芯片从Hopper到Rubin成品测试时长由1天升至7天,单颗芯片更难测、测得更久,直接利好测试机需求增长。
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新闻直接点名的功率+模拟+数字+SLT测试龙头。测试系统收入占88.2%,产品覆盖模拟、混合信号、数字及系统级测试(SLT)。AI芯片系统级测试时长由1→2.5天,公司掌握全品类测试能力,直接受益于测试需求与成本占比双升。
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新闻直接点名分选机标的。半导体类设备收入占31.1%,转塔式分选机持续放量,平移式分选机年内订单预计从8台增至200台(25倍增长)。AI芯片测试时长翻倍背景下,分选机作为后道测试关键设备需求提速。
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国内少数半导体存储器测试设备全覆盖厂商。半导体存储器件测试收入占55.6%,产品矩阵包括:存储器晶圆测试机(针对DRAM)、MEMS探针卡、老化测试及修复设备。2025年报明确产品覆盖晶圆测试→老化→FT全流程,直接匹配新闻中"存储测试"+"老化测试"+"探针卡"三大需求方向。
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半导体业务收入占39.4%,在探针卡领域实现核心突破。2025年报披露已开发2D/2.5D MEMS探针卡、WAT探针卡系列,其中2.5D MEMS探针卡明确用于NOR、NAND、DRAM等存储芯片的CP测试,覆盖存储芯片及AI芯片测试场景。与强一股份在MEMS探针卡赛道形成竞品关系。
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国内测试分选机专业厂商,测试分选机收入占90.6%,产品应用于后道封装测试。与深科达在分选机赛道构成直接竞争关系,受益于国产存储扩产推动的半导体后道设备需求提速,属于新闻逻辑链下的同赛道受益标的。
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中国大陆规模最大的探针台设备制造企业,探针台市场占有率国内厂商第一(2019年国内厂商排名第一、整体第四)。晶圆探针台(收入43.4%)+晶粒探针台(36.7%)是测试系统关键设备,与测试机、探针卡配套使用于晶圆测试环节。2025年3月创业板上市,受益于国产存储扩产带动测试设备需求。